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Supporto per barilotto di wafer rivestito in SiC CVD
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Supporto per barilotto di wafer rivestito in SiC CVD

Wafer rivestito in SiC CVD Il supporto del barilotto è il componente chiave del forno a crescita epitassiale, ampiamente utilizzato nei forni a crescita epitassiale MOCVD. VeTek Semiconductor fornisce prodotti altamente personalizzati. Indipendentemente dalle tue esigenze per il supporto per barilotto per wafer rivestito SiC CVD, non esitare a consultarci.

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Descrizione del prodotto

La deposizione di vapore chimico organico metallico (MOCVD) è attualmente la tecnologia di crescita epitassiale più calda, ampiamente utilizzata nella produzione di laser e LED a semiconduttore, in particolare nell'epitassia GaN. L'epitassia si riferisce alla crescita di un altro film monocristallino su un substrato cristallino. La tecnologia epitassia può garantire che il film cristallino appena cresciuto sia strutturalmente allineato con il substrato cristallino sottostante. Questa tecnologia consente la crescita di film con proprietà specifiche sul substrato, essenziale per la produzione di dispositivi a semiconduttore ad alte prestazioni.


Il supporto del barilotto del wafer è un componente chiave del forno a crescita epitassiale. Il supporto per wafer di rivestimento CVD SiC è ampiamente utilizzato in vari forni a crescita epitassiale CVD, in particolare nei forni a crescita epitassiale MOCVD.


VeTek Semiconductor SiC Coated Barrel Susceptor products

Funzioni e feature del supporto per barilotto per wafer rivestito in SiC CVD


● Trasportare e riscaldare substrati: Il suscettore a barilotto rivestito in SiC CVD viene utilizzato per trasportare substrati e fornire il riscaldamento necessario durante il processo MOCVD. Il supporto del barilotto per wafer rivestito SiC CVD è composto da grafite di elevata purezza e rivestimento SiC e offre prestazioni eccellenti.


● Uniformità: Durante il processo MOCVD, il supporto del cilindro in grafite ruota continuamente per ottenere una crescita uniforme dello strato epitassiale.


● Stabilità termica e uniformità termica: Il rivestimento SiC del suscettore a cilindro rivestito in SiC ha un'eccellente stabilità termica e uniformità termica, garantendo così la qualità dello strato epitassiale.


● Evitare la contaminazione: Il supporto per barilotto in wafer rivestito in SiC CVD ha un'eccellente stabilità, in modo che non cada contaminanti durante il funzionamento.


● Durata estremamente lunga: Grazie al rivestimento SiC, il CVD SiC Coated Barrel Susceptor ha ancora una durata sufficiente nell'ambiente ad alta temperatura e gas corrosivo del MOCVD.


Schematic of the CVD Barrel Susceptor

Schema del reattore Barrel CVD


La più grande caratteristica del supporto per barilotto per wafer rivestito in SiC CVD di VeTek Semiconductor



● Il massimo grado di personalizzazione: La composizione del materiale del substrato di grafite, la composizione del materiale e lo spessore del rivestimento SiC e la struttura del supporto per wafer possono essere personalizzati in base alle esigenze del cliente.


● Essere un passo avanti rispetto agli altri fornitori: Il suscettore cilindrico in grafite rivestito in SiC di VeTek Semiconductor per EPI può anche essere personalizzato in base alle esigenze del cliente. Sulla parete interna possiamo realizzare modelli complessi per rispondere alle esigenze del cliente.



Fin dalla sua nascita, VeTek Semiconductor si è impegnata nella continua esplorazione della tecnologia di rivestimento SiC. Oggi, VeTek Semiconductor vanta la forza dei prodotti di rivestimento SiC leader del settore. VeTek Semiconductor non vede l'ora di diventare il vostro partner nei prodotti porta barili wafer rivestiti SiC CVD.


DATI SEM DELLA STRUTTURA CRISTALLINA DEL FILM DI RIVESTIMENTO CVD SIC

CVD SIC COATING FILM CRYSTAL STRUCTURE

Proprietà fisiche di base del rivestimento SiC CVD

Proprietà fisiche di base del rivestimento SiC CVD
Proprietà
Valore tipico
Struttura cristallina
FCC fase β policristallina, prevalentemente orientata (111).
Densità
3,21 g/cm³
Durezza
Durezza 2500 Vickers (carico 500 g)
Granulometria
2~10μm
Purezza chimica
99,99995%
Capacità termica
640 J·kg-1·K-1
Temperatura di sublimazione
2700 ℃
Resistenza alla flessione
415 MPa RT a 4 punti
Modulo di Young
Curvatura 4 punti 430 Gpa, 1300 ℃
Conducibilità termica
300W·m-1·K-1
Dilatazione termica (CTE)
4,5×10-6K-1

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