VeTek Semiconductor è un produttore e fornitore professionale, impegnato a fornire suscettore epitassiale MOCVD di alta qualità per wafer da 4". Con una ricca esperienza nel settore e un team di professionisti, siamo in grado di fornire soluzioni esperte ed efficienti ai nostri clienti.
VeTek Semiconductor è un produttore cinese leader professionale di suscettore epitassiale MOCVD per wafer da 4" con alta qualità e prezzo ragionevole. Non esitare a contattarci. Il suscettore epitassiale MOCVD per wafer da 4" è un componente critico nella deposizione chimica da vapore metallo-organico (MOCVD) processo, che è ampiamente utilizzato per la crescita di film sottili epitassiali di alta qualità, tra cui nitruro di gallio (GaN), nitruro di alluminio (AlN) e carburo di silicio (SiC). Il suscettore funge da piattaforma per sostenere il substrato durante il processo di crescita epitassiale e svolge un ruolo cruciale nel garantire una distribuzione uniforme della temperatura, un trasferimento di calore efficiente e condizioni di crescita ottimali.
Il suscettore epitassiale MOCVD per wafer da 4" è generalmente realizzato in grafite di elevata purezza, carburo di silicio o altri materiali con eccellente conduttività termica, inerzia chimica e resistenza allo shock termico.
I suscettori epitassiali MOCVD trovano applicazioni in vari settori, tra cui:
Elettronica di potenza: crescita dei transistor ad alta mobilità elettronica (HEMT) basati su GaN per applicazioni ad alta potenza e alta frequenza.
Optoelettronica: crescita dei diodi emettitori di luce (LED) e dei diodi laser basati su GaN per tecnologie di illuminazione e visualizzazione efficienti.
Sensori: crescita dei sensori piezoelettrici basati su AlN per il rilevamento di pressione, temperatura e onde acustiche.
Elettronica ad alta temperatura: crescita dei dispositivi di potenza basati su SiC per applicazioni ad alta temperatura e alta potenza.
Proprietà fisiche della grafite isostatica | ||
Proprietà | Unità | Valore tipico |
Densità apparente | g/cm³ | 1.83 |
Durezza | HSD | 58 |
Resistività elettrica | mΩ.m | 10 |
Resistenza alla flessione | MPa | 47 |
Resistenza alla compressione | MPa | 103 |
Resistenza alla trazione | MPa | 31 |
Modulo di Young | GPa | 11.8 |
Dilatazione termica (CTE) | 10-6K-1 | 4.6 |
Conduttività termica | W·m-1·K-1 | 130 |
Granulometria media | µm | 8-10 |
Porosità | % | 10 |
Contenuto di cenere | ppm | ≤10 (dopo purificato) |
Nota: prima del rivestimento verrà eseguita la prima purificazione, dopo il rivestimento verrà eseguita la seconda purificazione.
Proprietà fisiche di base del rivestimento SiC CVD | |
Proprietà | Valore tipico |
Struttura di cristallo | FCC fase β policristallina, prevalentemente orientata (111). |
Densità | 3,21 g/cm³ |
Durezza | Durezza 2500 Vickers (carico 500 g) |
Granulometria | 2~10μm |
Purezza chimica | 99,99995% |
Capacità termica | 640 J·kg-1·K-1 |
Temperatura di sublimazione | 2700 ℃ |
Resistenza alla flessione | 415 MPa RT a 4 punti |
Modulo di Young | Curvatura 4 punti 430 Gpa, 1300 ℃ |
Conduttività termica | 300W·m-1·K-1 |
Dilatazione termica (CTE) | 4,5×10-6K-1 |